たけちゅさん宅

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"AFM analysis" 翻訳してみた。

AFM解析

1986年。ゲルト・ビーニッヒによって原子間力顕微鏡(AFM)が開発された。AFMは走査型トンネル顕微鏡(AFMの前身)の測定限界を越えることを主な目的として開発された。走査型トンネル顕微鏡(STM)は、トンネル電流を流す試料のみ観察できた。しかしながら、AFMは高分子や生体試料などのトンネル電流を流さない試料の観察を目的とした。稀に、STMの解像度がAFMを上回ることがある。というのも、トンネル電流が距離に対して指数関数的に増加することがある。一方で、AFMの力-距離測定機能は、プローブの形状や、接触力によって、より複雑な距離依存性を示すからである。ただ、多能という点において、AFMの方が上まっている。

ここで、他の顕微鏡技術と比較して、AFMの方が優れている、あるいは同程度に優れていることを示そう。

AFM vs SEM

AFMは直接、試料の高さを計測できる。つまり、より詳細なトポ像を得ることができる。そして、SEM像よりも、より明瞭に試料表面の形状を視認できる。

AFM vs TEM

三次元の像を得るために、AFMでは試料準備へのコストがない。そして、それは横断的に種々のサンプルを観察することで、より完璧な情報を得ることができる。

AFM vs 光学顕微鏡

AFMは試料の違いに関わらず、高さの計測が可能である。



以上、下記ホームページ(英語)の翻訳をしてみた。
What is FTIR Spectrum Analysis • AFM Analysis